الفحص الظاهري للوحة الأم.. آثار لتلف المكثفات الالكتروليتية أو لحدوث زيادة غير طبيعية في درجة حرارة الأجزاء الالكترونية

يتم الفحص الظاهري للوحة الأم بما يلي:
- البحث عن أي آثار لتلف المكثفات الالكتروليتية الموجودة على اللوحة الأم.
- البحث عن أي آثار لحدوث زيادة غير طبيعية في درجة حرارة الأجزاء الالكترونية الموجودة على اللوحة الأم وهو ما يشار إليه بالمصطلح Overheating، كما يهتم الفحص الظاهري بالبحث عن التغير في لون أي قطعة الكترونية نتيجة لحدوث overheating.
- التأكد من التثبيت الجيد للدوائر المتكاملة ICs التي يستخدم في تثبيتها على اللوحة الأم قواعد تثبيت IC Sockets كذلك يجب التأكد من أن أطراف هذه الدوائر المتكاملة لا يوجد بينها أطراف منثنية bent legs ، وأن التلامس بين أطراف الدائرة المتكاملة ونقاط التلامس الموجودة في قاعدة التثبيت جيدة.
- التأكد من أن جميع خطوط التوصيل المطبوعة على اللوحة الأم سليمة ولا يوجد بها أي قطع.
- التأكد من أن Jumpers الموجودة على اللوحة الأم مضبوطة بالصورة الصحيحة تبعا لنوع المعالج CPU المستخدم مع اللوحة الأم,  ولإتمام هذه العملية يمكن الرجوع إلى الجداول المطبوعة على اللوحة الأم أو إلى دليل الاستخدام الخاص باللوحة الأم.

إرسال تعليق

أحدث أقدم

نموذج الاتصال